Transmission electron microscopy of InxGa1-xAs/GaAs strained- layer structures
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Format: | UnknownFormat |
Veröffentlicht: |
Göteborg
1990
|
Schlagworte: | |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Beschreibung: | Göteborg, Techn. Hochsch., Dept. of Physics, Diss. 1990 |
---|---|
Beschreibung: | Getr. Pag |