Transmission electron microscopy of InxGa1-xAs/GaAs strained- layer structures

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1. Verfasser: Yao, Ji-Yong (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Veröffentlicht: Göteborg 1990
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Beschreibung
Beschreibung:Göteborg, Techn. Hochsch., Dept. of Physics, Diss. 1990
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