Untersuchungen zur Elektromigration in Leitbahnen hochintegrierter mikroelektronischer Schaltkreise
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Format: | UnknownFormat |
Veröffentlicht: |
1988
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Beschreibung: | Dresden, Techn. Univ., Fak.f. Naturwiss. u. Mathematik, Diss. 1988 |
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Beschreibung: | 129 gez. Bl. m. zahlr. Abb Ill., graph. Darst |