Untersuchungen zur Elektromigration in Leitbahnen hochintegrierter mikroelektronischer Schaltkreise

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1. Verfasser: Silva González, N Rutilo (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Veröffentlicht: 1988
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Beschreibung
Beschreibung:Dresden, Techn. Univ., Fak.f. Naturwiss. u. Mathematik, Diss. 1988
Beschreibung:129 gez. Bl. m. zahlr. Abb
Ill., graph. Darst