Flying-spot scanning for the investigation of electrical parameter inhomogeneities in silicon
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | UnknownFormat |
| Veröffentlicht: |
Uppsala
1985
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| Schriftenreihe: | Acta Universitatis Upsaliensis. Abstracts of Uppsala dissertations from the Faculty of Science
789 |
| Schlagworte: | |
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Tag hinzufügen | Beschreibung: | Zugl. Diss Vorlageform der Veröffentlichungsangabe: Uppsala ; Stockholm : Almqvist & Wiksell in Komm. |
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| Beschreibung: | 25 S |
| ISBN: | 9155417027 91-554-1702-7 |