Secondary ion mass spectrometry basic concepts, instrumental aspects, applications and trends

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Benninghoven, Alfred (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Rüdenauer, Friedrich G. (VerfasserIn), Werner, H. W. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	New York, NY u.a. Wiley 1987
Schriftenreihe:	Chemical analysis 86
Schlagworte:	Secondary ion mass spectrometry > Sekundärionen-Massenspektrometrie
Online Zugang:	Publisher description Contributor biographical information
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!