Rasterelektronenmikroskopische Untersuchungen an elektrisch aktiven Defekten in Halbleitern

Stuttgart, Univ., Diss., 1988

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Bode, Michael (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: 1987
Schlagworte:
Hochschulschrift
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Beschreibung
Zusammenfassung:Stuttgart, Univ., Diss., 1988
Beschreibung:171 S.
Ill., graph. Darst.