Über die quantitative Erfassung der Hochinjektionseffekte in flußbelasteten pin-Dioden mit Hilfe der Rekombinationsstrahlungs-Meßmethode

Berlin, Techn. Univ., FB Elektrotechnik, Diss., 1987

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Boit, Christian (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: 1987
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Beschreibung
Zusammenfassung:Berlin, Techn. Univ., FB Elektrotechnik, Diss., 1987
Beschreibung:193 S.
graph. Darst.