Genetic analysis and early testing of Stagonospora nodorum blotch resistance in hexaploid wheat

Zurich, Swiss Fed. Inst. of Techn., Diss., 2004

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Aguilar, Victor (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2004
Ausgabe:[Mikrofiche-Ausg.]
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Beschreibung
Zusammenfassung:Zurich, Swiss Fed. Inst. of Techn., Diss., 2004
Beschreibung:Zsfassung in franz. Sprache
Beschreibung:X, 120 Bl. : graph. Darst.