Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures : phonons, plasmons, and polaritons

Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures phonons, plasmons, and polaritons

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Schubert, Mathias (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Berlin u.a. Springer 2004
Schriftenreihe:Springer tracts in modern physics 209
Schlagworte:
Halbleiter > Mehrschichtsystem > Dielektrische Funktion > Ellipsometrie > Infrarot
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:XI, 193 S. : Ill., graph. Darst.
ISBN:3540232494