Point defects in semiconductors and insulators : determination of atomic and electronic structure from paramagnetic hyperfine interactions

Point defects in semiconductors and insulators determination of atomic and electronic structure from paramagnetic hyperfine interactions

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Spaeth, Johann-Martin (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Overhof, Harald (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Berlin u.a. Springer 2003
Schriftenreihe:Springer series in materials science 51
Schlagworte:
Festkörper > Störstelle > Elektronenspinresonanz > ENDOR
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:XI, 490 S. : graph. Darst.
ISBN:3540426957