Rasterelektronenmikroskopische Untersuchung der Zahnoberfläche nach Entfernung der festsitzenden kieferorthopädischen Apparaturen

Zürich, Univ., Diss., 2000

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Schuler, Felix Stephan (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	2000
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Zürich, Univ., Diss., 2000
Beschreibung:	42 Bl. : Ill., graph. Darst.