High resolution X-ray scattering from thin films and multilayers

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Bibliographische Detailangaben
Späterer Titel:	Pietsch, Ullrich: High resolution X-ray scattering from thin films to lateral nanostructures
1. Verfasser:	Holý, Václav (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Pietsch, Ullrich (VerfasserIn), Baumbach, Tilo (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Berlin u.a. Springer 1999
Schriftenreihe:	Springer tracts in modern physics 149
Schlagworte:	Dünne Schicht > Röntgenstreuung > Mehrschichtsystem
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Beschreibung
Beschreibung:	XI, 256 S. : Ill., graph. Darst.
ISBN:	354062029X