Near infrared microscopy a simple but effective technique to analyze microdefects in GaAs

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Sonnenberg, Klaus (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Altmann, A. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Jülich Forschungszentrum Jülich, Zentralbibliothek 1994
Schriftenreihe:	Berichte des Forschungszentrums Jülich 2939
Schlagworte:	Microscopy / methods > Crystallization
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