Gettering and defect engineering in semiconductor technology proceedings of the 5th international autumn meeting held in Chossewitz, near Frankfurt (Oder), Germany October 09 - 14, 1993

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	GADEST (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Grimmeiss, Hermann G. (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	Zug Scitec Publ. 1993
Schriftenreihe:	Diffusion and defect data : B 32,33
Schlagworte:	Konferenzschrift > Halbleiter > Gitterbaufehler
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!