Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Newbury, Dale E. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	New York, NY u.a. Plenum Press 1987
Ausgabe:	2. print.
Schlagworte:	Electron Probe Microanalysis > Microscopy, Electron, Scanning > Rasterelektronenmikroskopie > Röntgenmikroskopie
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Beschreibung
Beschreibung:	XII, 454 S. : zahlr. Ill. u. graph. Darst.
ISBN:	0306421402