Untersuchungen elektronischer Zustaende an Korngrenzen in Silizium
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
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| Format: | UnknownFormat |
| Sprache: | ger |
| Veröffentlicht: |
1983
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| Schlagworte: | |
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Tag hinzufügen | Beschreibung: | Stuttgart, Univ., Diss., 1983 |
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| Beschreibung: | 217 S. : graph. Darst. |