Computed electron micrographs and defect identification
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
Amsterdam u.a.
North-Holland
1973
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Schriftenreihe: | Defects in crystalline solids
7 |
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Beschreibung: | X, 400 S. : Ill., graph. Darst. |
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ISBN: | 0720417570 0444104623 |