Physical measurement and analysis of thin films [selected papers from the 1967 Eastern Analytical Symposium]

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Eastern Analytical Symposium (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Murt, Edward M. (HerausgeberIn)
Format: UnknownFormat
Veröffentlicht: New York Plenum Press 1969
Schriftenreihe:Progress in analytical chemistry 2
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Beschreibung
Beschreibung:XI, 194 S.