Quantifizierung von Feldinhomogenitäten in TEM-Wellenleitern

Die fortschreitende Digitalisierung und Elektrifizierung bewirken tiefgreifende Veränderungen in Technologie und Gesellschaft. Getrieben werden diese Entwicklungen durch politische, wirtschaftliche und ökologische Faktoren, wie den Ausbau erneuerbarer Energien, die Elektromobilität und die Industrie...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: VDI-Verlag <Düsseldorf> (Verlag)
Weitere Verfasser: Pham, Hoang Duc (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Düsseldorf VDI Verlag GmbH 2024
Ausgabe:Als Manuskript gedruckt
Schriftenreihe:Fortschritt-Berichte VDI. Elektrotechnik Nr. 426
Schlagworte:
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:Die fortschreitende Digitalisierung und Elektrifizierung bewirken tiefgreifende Veränderungen in Technologie und Gesellschaft. Getrieben werden diese Entwicklungen durch politische, wirtschaftliche und ökologische Faktoren, wie den Ausbau erneuerbarer Energien, die Elektromobilität und die Industrieautomatisierung. Infolgedessen sind elektromagnetische Felder in nahezu allen gesellschaftlichen Bereichen präsent. Vor diesem Hintergrund wird die präzise Messung der elektromagnetischen Feldstärke zur Sicherstellung des Personenschutzes und der technologischen Kompatibilität immer wichtiger. Zugleich steigen die Anforderungen an die elektromagnetische Verträglichkeit, da sowohl das Störpotenzial als auch die Sensitivität gegenüber elektromagnetischen Feldern zunehmen. Um die Herausforderungen bei der Erzeugung von elektromagnetischen Standardfeldern für Kalibrierungszwecke zu bewältigen, wird in dieser Arbeit ein Konzept zur systematischen Bestimmung von Unsicherheiten bei der Darstellung von elektromagnetischen Feldern in TEM-Zellen entwickelt. Der Fokus dieses Konzepts liegt auf der gezielten Modellierung geometrischer Störparameter und der Anwendung verschiedener elektromagnetischen...
Beschreibung:Rückentitel: Quantifizierung von Feldern in Wellenleitern
Beschreibung:XI, 124 Seiten
Illustrationen, Diagramme
ISBN:9783183426218
978-3-18-342621-8