Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Goldstein, Joseph (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Newbury, Dale E. (VerfasserIn), Michael, Joseph R. (VerfasserIn), Ritchie, Nicholas W. M. (VerfasserIn), Scott, John Henry J. (VerfasserIn), Joy, David C. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: New York, NY Springer 2018
Ausgabe:Fourth edition
Schlagworte:
Scanning electron microscopy > X-ray microanalysis > Werkstoff > Elektronenstrahlmikroanalyse > Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie > Rasterelektronenmikroskopie
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Beschreibung
Beschreibung:XXIII, 550 Seiten
Illustrationen, Diagramme (teilweise farbig)
ISBN:9781493966745
978-1-4939-6674-5