Modeling of leakage currents in high-k dielectrics for future DRAM application
Dissertation, Technische Universität München, 2015
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
München
2015
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Schlagworte: | |
Online Zugang: | Volltext https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bvb:91-diss-20151014-1237272-1-8 |
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Zusammenfassung: | Dissertation, Technische Universität München, 2015 |
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Beschreibung: | xx, 180 Seiten Diagramme |