˜Theœ EDMR microscope : combining conductive atomic force microscopy with electrically detected magnetic resonance

˜Theœ EDMR microscope combining conductive atomic force microscopy with electrically detected magnetic resonance

Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 2013

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Klein, Konrad (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: München Verein zur Förderung des Walter-Schottky-Inst. der Techn. Univ. 2014
Ausgabe:1. Aufl.
Schriftenreihe:Selected topics of semiconductor physics and technology 177
Schlagworte:
Hochschulschrift
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Zusammenfassung:Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 2013
Beschreibung:VII, 195 S.
Ill., graph. Darst.
21 cm
ISBN:9783941650770
978-3-941650-77-0