High efficiency process development for defect-rich silicon wafer materials
Zugl.: Konstanz, Univ., Diss., 2012
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
München
Dr. Hut
2012
|
Ausgabe: | 1. Aufl. |
Schlagworte: | |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | Zugl.: Konstanz, Univ., Diss., 2012 |
---|---|
Beschreibung: | 160 S. Ill., graph. Darst. 210 mm x 148 mm, 463 g |
ISBN: | 9783843904551 978-3-8439-0455-1 |