Anwendungspotenziale von scannenden Messverfahren

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Von Handaufmaß bis High Tech / hrsg. von Ulrich Weferling, Katja Heine und Ulrike Wulf
1. Verfasser:	Niemeier, Wolfgang (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Kern, Fredie (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	2001
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