Scanning probe microscopy [16th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM16) was held in Atagawa Heights, Higashi-izu, Japan from December 11 through 13, 2008]
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| Weitere Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | UnknownFormat |
| Sprache: | eng |
| Veröffentlicht: |
Tokyo
Japan Soc. of Applied Physics
2009
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| Schriftenreihe: | Japanese journal of applied physics
48,8,3 : Special issue |
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Tag hinzufügen | Beschreibung: | Kongress aus dem Vorwort ermittelt. - Einzelaufnahme eines Zeitschr.-Heftes |
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| Beschreibung: | Getr. Zählung Ill., graph. Darst. |