Fundamentals of nanoscale film analysis

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Alford, Terry L. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Feldman, Leonard C. (VerfasserIn), Mayer, James W. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	New York Springer 2007
Schlagworte:	Couches minces > Materiales nanoestructurados > Nanomatériaux > Películas delgadas > Nanostructured materials > Thin films > Photonenstrahlung > Teilchenstrahlung > Materialcharakterisierung > Nanometerbereich > Festkörperoberfläche
Online Zugang:	Inhaltstext Inhaltsverzeichnis
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