Fundamentals of nanoscale film analysis

Fundamentals of nanoscale film analysis

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Alford, Terry L. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Feldman, Leonard C. (VerfasserIn), Mayer, James W. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: New York Springer 2007
Schlagworte:
Couches minces > Materiales nanoestructurados > Nanomatériaux > Películas delgadas > Nanostructured materials > Thin films > Photonenstrahlung > Teilchenstrahlung > Materialcharakterisierung > Nanometerbereich > Festkörperoberfläche
Online Zugang:Inhaltstext
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Beschreibung
Beschreibung:Angekündigt u.d.T.: Alford, Terry L.: Nanoscale thin film analysis
Beschreibung:XIV, 336 S.
Ill., graph. Darst.
ISBN:0387292608
0-387-29260-8
9780387292601
978-0-387-29260-1