Test design for analog integrated circuits

Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 2005

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Pronath, Michael (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	München Verl. Dr. Hut 2006
Ausgabe:	1. Aufl.
Schriftenreihe:	Elektronik
Schlagworte:	Analoge integrierte Schaltung > Prüftechnik > Testbarkeit > Mixed-Signal-Schaltung > Hochschulschrift
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