Spektroskopische Charakterisierung von Germanium-Quantenpunkten in Silizium

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Bougeard, Dominique (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Garching Verein zur Förderung des Walter Schottky Inst. der Techn. Univ. München e.V. 2006
Ausgabe:1. Aufl.
Schriftenreihe:Selected topics of semiconductor physics and technology 74
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Beschreibung
Beschreibung:Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 2005
Beschreibung:XII, 154 S.
Ill., graph. Darst.
ISBN:393274974x
3-932749-74-x