Proceedings of the ninth Conference on Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science Berkeley, CA, USA, October 5 - 10, 2003

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Bradley, Steven A. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Amsterdam u.a. Elsevier 2004 erschienen 2005
Schriftenreihe:	Ultramicroscopy 103,1
Schlagworte:	Elektronenmikroskopie > Werkstoffkunde > Konferenzschrift
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Beschreibung
Beschreibung:	Einzelaufnahme eines Zeitschr.-Heftes
Beschreibung:	93 S. Ill., graph. Darst.