Physical Measurement and analysis of thin films

Selected papers from the 1967 Eastern Analytical Symposium. Ed. by E(dward) M.Murt and W(illiam) G.Guldner.<br>New York: Plenum Pr. 1969. XI, 194 S. m. Abb. u. Taf.<br>(Progress in analytical chemistry. 2.)

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Guldner, William G. (BerichterstatterIn), Murt, Edward M. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	und
Veröffentlicht:	1969
Schlagworte:	Physikalische Analyse > Dünne Schicht > Konferenzschrift
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Selected papers from the 1967 Eastern Analytical Symposium. Ed. by E(dward) M.Murt and W(illiam) G.Guldner.<br>New York: Plenum Pr. 1969. XI, 194 S. m. Abb. u. Taf.<br>(Progress in analytical chemistry. 2.)