Rauschverhalten von Halbleiterdetektoren mit innerer Verstärkung durch Stoßionisation bei der Spektroskopie von niederenergetischen -oder Röntgenquanten

München 1973. 104 S. mit Abb. 8<br>München, T. U., F.f. Maschinenw. u. Elektrotechnik, Diss. v. 29. Mai 1973.

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Berg, Gerhard (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	und
Veröffentlicht:	1973
Schlagworte:	Hochschulschrift
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Zusammenfassung:	München 1973. 104 S. mit Abb. 8<br>München, T. U., F.f. Maschinenw. u. Elektrotechnik, Diss. v. 29. Mai 1973.