Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie <SIMS> in der Oberfächenanalyse

(Opladen): Westdt. Verl. 1981. 23 S.m.Abb.u.Taf. 8 (4)<br>(Forschungsberichte d. Landes Nordrhein-Westfalen. 3049 = Fachgruppe Physik, Chemie, Biologie.)

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Bünau, Günther (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Klöppel, Klaus-Dieter (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	und
Veröffentlicht:	1981
Schlagworte:
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!