Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie <SIMS> in der Oberfächenanalyse

(Opladen): Westdt. Verl. 1981. 23 S.m.Abb.u.Taf. 8 (4)<br>(Forschungsberichte d. Landes Nordrhein-Westfalen. 3049 = Fachgruppe Physik, Chemie, Biologie.)

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Bünau, Günther (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Klöppel, Klaus-Dieter (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:und
Veröffentlicht: 1981
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Beschreibung
Zusammenfassung:(Opladen): Westdt. Verl. 1981. 23 S.m.Abb.u.Taf. 8 (4)<br>(Forschungsberichte d. Landes Nordrhein-Westfalen. 3049 = Fachgruppe Physik, Chemie, Biologie.)