Zuverlässigkeit von großflächigen Verbindungen in der Leistungselektronik ein Beitrag zum "Design for reliability"

Zugl.: Bremen, Univ., Diss., 2002

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Thoben, Markus (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Düsseldorf VDI-Verl. 2002
Ausgabe:	Als Ms. gedruckt
Schriftenreihe:	Fortschritt-Berichte VDI Reihe 9, Elektrotechnik, Elektronik ; 363
Schlagworte:	Zuverlässigkeit > Thermische Ermüdung > Lebensdauer > Leistungselektronik > Elektronisches Bauelement > Lötverbindung > Hochschulschrift
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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