Pattern recognition with support vector machines : first international workshop, SVM 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002 ; proceedings

Pattern recognition with support vector machines first international workshop, SVM 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002 ; proceedings

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: SVM (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Lee, Seong-Whan (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Berlin ; Heidelberg ; New York ; Barcelona ; Hong Kong ; London Springer 2002
Schriftenreihe:Lecture notes in computer science 2388
Schlagworte:
Pattern recognition systems -- Congresses > Machine learning -- Congresses > Support-Vektor-Maschine > Mustererkennung > Konferenzschrift
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Beschreibung
Beschreibung:Literaturangaben
Beschreibung:XI, 420 S.
Ill., graph. Darst.
ISBN:354044016X
3-540-44016-X