NC-AFM 2000 proceedings of the Third International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy, 16 - 19 July 2000, Hamburg, Germany

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	NC-AFM (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Schwarz, Udo D. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Berlin u.a. Springer 2001
Schriftenreihe:	Applied Physics : A, Materials science & processing 72, Suppl.
Schlagworte:	Rasterkraftmikroskopie > Konferenzschrift
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!