Von Handaufmass bis High Tech [I] : messen, modellieren, darstellen ; Aufnahmeverfahren in der historischen Bauforschung ; interdisziplinäres Kolloquium vom 23. - 26. Februar 2000

Von Handaufmass bis High Tech [I] messen, modellieren, darstellen ; Aufnahmeverfahren in der historischen Bauforschung ; interdisziplinäres Kolloquium vom 23. - 26. Februar 2000

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Brandenburgische Technische Universität Cottbus Lehrstuhl Baugeschichte (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Weferling, Ulrich (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Mainz am Rhein Zabern 2001
Schlagworte:
Bauforschung > Maßordnung > Architekturzeichnung > Bauentwurf > Baudenkmal > Kunstwerk > CAD > Konservierung > Konferenzschrift
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:XII, 276, XIV S.
zahlr. Ill., graph. Darst., Kt.
CD-ROM (12 cm)
ISBN:3805328184
3-8053-2818-4