Schichtwachstum und elektronische Defekteigenschaften von CuInS2-Absorberschichten aus dem sequentiellen Prozeß

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Siemer, Kai (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Berlin HMI 2000
Schriftenreihe:	Hahn-Meitner-Institut <Berlin>: Berichte des Hahn-Meitner-Instituts 571
Schlagworte:	Hochschulschrift
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