Parametric test of mixed signals ICs under consideration of the impact of test stimulus imprecisions

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Pronath, Michael (VerfasserIn)
Körperschaft: Technische Universität München Lehrstuhl für Entwurfsautomatisierung (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Gräb, Helmut E. (VerfasserIn), Antreich, Kurt (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: München TUM, Lehrstuhl f. Entwurfsautomatisierung 2001
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Beschreibung
Beschreibung:5 S.
graph. Darst.