Herstellung und Charakterisierung von Silizium-Nanostrukturen
Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 1999
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | ger |
Veröffentlicht: |
München
Walter-Schottky-Inst.
1999
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Ausgabe: | 1. Aufl. |
Schriftenreihe: | Selected topics of semiconductor physics and technology
26 |
Schlagworte: | |
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Zusammenfassung: | Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 1999 |
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Beschreibung: | VI, 163 S. Ill., graph. Darst. |
ISBN: | 393274926X 3-932749-26-X |