Microscopy of semiconducting materials 1999 : proceedings of the Institute of Physics Conference held at Oxford University, 22 - 25 March 1999

Microscopy of semiconducting materials 1999 proceedings of the Institute of Physics Conference held at Oxford University, 22 - 25 March 1999

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Cullis, Anthony G. (HerausgeberIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bristol u.a. IOP Publ. 1999
Schriftenreihe:Institute of Physics <London>: Institute of Physics conference series 164
Schlagworte:
Composés semiconducteurs - Congrès > Microscopie életronique - Congrès > Semiconducteurs - Congrès > Epitaxy > High resolution electron microscopy > Materials > Microscopy > Semiconductors > Surfaces > Halbleiter > Mikroskopie > Konferenzschrift
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Beschreibung
Beschreibung:XVIII, 756 S.
Ill., graph. Darst.
ISBN:0750306505
0-7503-0650-5