Run length analysis of Shewhart charts applied to drifting processes under an integrative SPC-EPC model

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Göb, Rainer (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Del Castillo, Enrique (VerfasserIn), Dräger, Klaus (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Würzburg Würzburg Research Group on Quality Control, Inst. für Angewandte Mathematik und Statistik 1998
Schriftenreihe:Economic quality control 79
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Beschreibung
Beschreibung:29 Bl.
graph. Darst.