Strukturcharakterisierung mit Röntgenbeugung, Wachstum und In-situ-Oberflächenuntersuchungen von II-VI-Halbleiter-Heterostrukturen

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Kastner, Marcus J. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Regensburg Roderer 1997
Schriftenreihe:	Theorie und Forschung 488
Schlagworte:	Zwei-Sechs-Halbleiter > Oberflächenstruktur > Heterostruktur > Hochschulschrift
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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