Study of the radiation damage in analog CMOS pipelines, MOS transistors, and MOS capacitors

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Böttcher, Stephan (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Hamburg DESY 1996
Schriftenreihe:	Deutsches Elektronen-Synchrotron <Hamburg>: [Interner Bericht / F 35 D] 1996,12
Schlagworte:	Hochschulschrift
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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