Scanning tunneling microscopy special issue ; [the 3rd International Colloquium on Scanning Tunneling Microscopy was held at Kanazawa Institute of Technology from December 7 - 9, 1995]

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	International Colloquium on Scanning Tunneling Microscopy (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Hosoki, Shigeyuki (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	und
Veröffentlicht:	Tokyo Japanese Journal of Applied Physics 1996
Schriftenreihe:	Japanese journal of applied physics / 1 35,6,2
Schlagworte:	Rastertunnelmikroskopie > Tunneleffekt > Mikroskopie > Konferenzschrift
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!