Modulated Scanning Kelvin Microscope for quantitative contact potential difference measurement with lateral resolution

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Ren, Jianxin (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	1995
Schlagworte:	Kontaktpotential > Elektronenmikroskop > Rastersondenmikroskop > Kelvin-Sonde > Auflösungsvermögen > Hochschulschrift
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Beschreibung
Beschreibung:	München, Univ. der Bundeswehr, Diss., 1996
Beschreibung:	123 S. Ill., graph. Darst.