Untersuchungen belasteter Risse mit dem Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskop

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Göken, Mathias (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Düsseldorf VDI-Verl. 1995
Ausgabe:	Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:	Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschrittberichte VDI / 18] 175
Schlagworte:	Rissspitze > Nickellegierung > Rastertunnelmikroskopie > Aluminiumlegierung > Rasterkraftmikroskopie > Hochschulschrift
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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