Untersuchungen belasteter Risse mit dem Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskop

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Göken, Mathias (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Düsseldorf VDI-Verl. 1995
Ausgabe:	Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:	Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschrittberichte VDI / 18] 175
Schlagworte:	Rissspitze > Nickellegierung > Rastertunnelmikroskopie > Aluminiumlegierung > Rasterkraftmikroskopie > Hochschulschrift
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Beschreibung:	Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1994
Beschreibung:	VIII, 115 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:	3183175185 3-18-317518-5