Ballistic electron emission microscopy (beem) studies of metal/semiconductor interfaces with nanometer resolution

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Prietsch, Mario (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Amsterdam u.a. North-Holland 1995
Schriftenreihe:	Physics reports 253,4
Schlagworte:	Ballistische-Elektronen-Emissions-Mikroskopie
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